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ISO3497-2000X熒光鍍層測厚儀
摘要：ISO（國際標準化組織）是一個由國家標準機構（ISO成員機構）組成的世界性聯(lián)合會。編制國際標準的工作通常是通過ISO技術委員會進行的。本標準為第三版取消并替換第二版（ISO 3497-1990）。 |
ISO3497-2000金屬鍍層 鍍層厚度的測量 X射線光譜測定法。
試驗基礎：
涂層單位面積的質量（如果密度已知,則為線性涂層厚度）與二次輻射強度之間存在關系。對于任何實際的儀器系統(tǒng)，這種關系首先是通過使用單位面積具有已知質量涂層的校準標準進行校準來建立的。如果已知涂層材料密度,則此類標準可以以線性厚度單位給出涂層,前提是也給出了實際密度值。
注：涂層材料密度是涂層的密度，在測量時可能是也可能不是涂層材料的理論密度。如果該密度與校準標準的密度不同，則應使用反映該差異的系數(shù)并記錄在試驗報告中。
熒光強度是元素原子序數(shù)的函數(shù)。如果頂涂層、中間涂層（如果有）和基底由不同的元素組成或涂層由多個元素組成，則這些元素將為每個元素產生輻射特性。一個合適的探測器系統(tǒng)可以調整以選擇一個或多個能帶，使設備能夠同時測量頂部涂層或頂部和一些中間涂層的厚度和/或成分。
試驗報告應包括以下信息：
1、參考本國際標準，即ISO 3497；
2、明確鑒定試樣；
3、測量日期；
4、試樣上的測量位置；
5、每次報告測量的平均測量次數(shù)；
6、準直器孔徑大小和測量區(qū)域大?。ㄈ绻煌?；
7、測量值；
8、用于厚度計算的密度和所用值的合理性；
9、代表報告測量值的標準偏差；
10、與本ISO試驗方法的任何偏差；
11、可能影響報告結果解釋的任何因素；
12、操作人員和檢測實驗室的名稱；
13、所用校準或其他可接受參考標準的蕞新認證日期及其可追溯性。
X射線熒光分析測厚儀能提供：鍍層厚度和元素分析功能,不但性能優(yōu)越,而且價格優(yōu)惠。分析鍍層厚度和元素成份同時進行，只需數(shù)秒鐘便能非破壞性地得到準確的測量結果，多層鍍層的厚度測量也一樣能勝任。輕巧的樣品室，適合不同大小的樣品，功能實用，準確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的首要選擇。
Cube系列可測量各類金屬、合金單層及多層的鍍層厚度、電鍍液中金屬離子的含量和合金元素成份及含量。
ACZET系列X射線熒光分析測厚儀特點：
ACZET系列X射線鍍層測厚儀是基于X射線熒光技術，該技術已經(jīng)被證實并且得到廣泛應用，可以在無須樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。它能分析固體和液體，元素范a圍包括從元素周期表中的Ti22到U92，并且具有不同大小的樣品艙。
產品功能：
1. 采用X射線熒光光譜法無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。
1. 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。
2. 鍍層層數(shù)：多至5層。
3. 測量點尺寸：圓形測量點，直徑約0.2-0.8毫米。
4. 測量時間：通常35秒-180秒。
5. 樣品蕞大尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。
6. 測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。
7. 可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結構而定。
8. 同時定量測量8個元素。
9. 定性鑒定材料達20個元素。
產品參數(shù)：
· X射線光管 微聚焦，高性能，鎢靶，焦斑尺寸0.2-0.8mm
· 高電壓 50千伏（1.2毫安）可根據(jù)軟件控制優(yōu)化
· 探測器 高分辨氣體正比計數(shù)探測器
· 準直器 單一固定準直器直徑0.3mm
· 樣品倉 330 x 200 x 170 mm
· 樣品臺 手動Z軸樣品臺
· 電源 230VAC, 50/60Hz, 120W / 100W
· 儀器尺寸 350 x 420 x 310 mm
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